太陽能電池研發(fā)與質量控制用太陽光譜儀S-2440 II

S-2440 II型主要用于測量太陽光模擬器的輻射光譜（包括脈沖光和穩(wěn)定光），并評估其與標準日照光譜的匹配度。其設計緊湊、成本低且雜散光少，適合實驗室及工業(yè)場景中的太陽能電池研發(fā)與質量控制。

二、技術特性

1. 寬波長范圍與高靈敏度

• 測量波長覆蓋300-1100 nm，適配硅基、染料敏化及有機薄膜太陽能電池的光譜需求。

• 采用高靈敏度探測器和優(yōu)化光譜儀設計，在紫外-近紅外波段具有更高的信噪比（SN）。

2. 動態(tài)測量能力

• 脈沖光跟蹤：每1毫秒連續(xù)跟蹤光譜變化，支持事件觸發(fā)模式，可同步捕捉脈沖光發(fā)光前后的波形演變。

• 曝光時間調節(jié)：接觸時間范圍為1-1,000毫秒，滿足不同光源的測量需求。

3. 光學系統(tǒng)設計

• 反射擴散器采用PTFE材料，具備優(yōu)異余弦特性（擴散均勻性）和高耐久性，適合長期使用35。

• 光纖與反射擴散器一體化設計（不可拆卸），需在更換時重新校準。

三、應用領域

1. 太陽能電池評估

• 測量太陽模擬器的光譜輻照度（μW/cm2/nm），判斷其是否符合JIS、IEC、ASTM等國際標準（如IEC 60904-9、ASTM AM1.5-2009）。

• 支持多類型電池測試，包括晶體硅、非晶硅及多結太陽能電池。

2. 光源分析與環(huán)境監(jiān)測

• 自然陽光光譜測量、實驗室恒定光源/脈沖光源的輻射特性分析。

四、檢測優(yōu)勢

1. 脈沖光同步技術

• 新增事件觸發(fā)模式，通過光電二極管檢測脈沖信號，支持在任意時間點提取數(shù)據，突破傳統(tǒng)設備僅能獲取脈沖后數(shù)據的限制。

2. 抗干擾與穩(wěn)定性

• 新開發(fā)電路板降低溫度依賴性及噪聲水平，提升長期測量穩(wěn)定性。

• 16位AD轉換電路確保高精度數(shù)據采集。

• 操作便捷性

• 配套軟件支持光譜輻照度計算、匹配度判斷及數(shù)據導出（CSV格式，每1 nm輸出一次數(shù)據）。

• 支持Windows 7/Vista系統(tǒng)（日語版），需用戶自備PC。

五、標準配置與選件

• 基礎配置：光譜儀主機、專用軟件、USB線、帶反射擴散器的光纖（1.0m）、交流適配器及收納箱。

• 可選配件：標準光源單元、反射擴散板固定單元（用于向上照射型太陽模擬器）。

六、使用注意事項

1. 環(huán)境要求：工作溫度10-35°C，濕度≤80%（無冷凝）。

2. 兼容性限制：僅支持日語版Windows系統(tǒng)，可能需額外配置語言環(huán)境。

3. 維護校準：更換光纖或反射器時需重新校準，以確保測量精度。

總結

S-2440 II型憑借其寬波長覆蓋、高動態(tài)響應及標準化支持，成為太陽能電池研發(fā)和光源檢測的高效工具。其針對脈沖光優(yōu)化的同步測量技術和低噪聲設計，尤其適用于高精度實驗室及工業(yè)檢測場景。用戶需注意系統(tǒng)兼容性和維護要求以發(fā)揮其最佳性能。